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针对土壤重金属污染的X荧光测试仪的设计
触摸屏 脉冲信号放大器 峰值检测 谱线
2014/6/9
为了快速检测土壤的重金属污染程度，设计了一种X荧光测试仪。该测试仪采用SiPIN半导体X射线探测器作为检测传感器、ARM S3C2440A作为控制与数据处理核心，并使用WXCAT35TG3#001F显示/触摸屏控制测试仪显示测量结果。测试仪可通过RS232接口与PC机进行数据通信，也可现场快速分析测试土壤中重金属As、Cr、Zn、Cu、Pb、Ni等的含量。实际应用结果表明，测试仪工作可靠、运...