搜索结果: 1-15 共查到“仪器科学与技术 CMOS图像传感器”相关记录22条 . 查询时间(0.094 秒)
本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子闩锁效应测试方法，该方法是由被测CMOS图像传感器、CMOS图像传感器测试板、FPGA、PC机、电流电压监测板和电源的测试系统组成，所述方法能够实现评估CMOS图像传感器不同电路模块的单粒子敏感性，从电路层面分析发生闩锁的具体原因；在地面模拟空间环境辐照试验中，在线实时采集不同电路单元电流电压值，同时采集暗场图像；依据发生闩锁时获得的暗场图像和不同电路单...
本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法。该方法所涉及的测试系统是由PC机和CMOS图像传感器测试板组成，其中CMOS图像传感器测试板由图像和数据接口、现场可编程门阵列、CMOS图像传感器和外围电路组成，在PC机中设置有图像成像软件和寄存器读写软件，PC机中图像采集卡通过数据线与CMOS图像传感器测试板中的图像和数据接口相连，现场可编程门阵列将图像数据映射成标准图像格式传递给...
中国科学院新疆理化技术研究所专利：一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后饱和灰度值评估方法
中国科学院新疆理化技术研究所 专利 通道分离 大面阵 彩色CMOS图像传感器 辐照饱和 灰度值评估
2023/12/21
本发明涉及一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后饱和灰度值评估方法，该方法涉及装置是静电试验平台、积分球光源、三维样品调整台、样品测试板、大面阵彩色CMOS图像传感器样品、直流电源和计算机组成，首先打开积分球光源，并关闭测试室中其他照明光源，然后设置积分球光源为固定光强，由小至大调整积分时间，使输出图像由黑至最亮，根据坐标将图像传感器不同像素单元的相应数据归类放入R、GB、GR或B通...
中国科学院新疆理化技术研究所专利：一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法
中国科学院新疆理化技术研究所 专利 通道分离 大面阵 彩色CMOS图像传感器 辐照后暗电流
2023/12/13
本发明涉及一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法，该方法涉及装置是由静电试验平台、三维样品调整台、样品测试板、大面阵彩色CMOS图像传感器样品、直流电源和计算机组成，在暗场条件下，选定积分时间，利用经过辐照后的图像传感器获取暗场图像并保存，根据坐标将图像传感器不同像素单元的相应数据归类放入R、GB、GR或B通道的灰度值矩阵中，再改变积分时间，最后画出暗场下各通道的曲线，...
中国科学院新疆理化技术研究所专利：一种不同光强对CMOS图像传感器像素单元满阱容量影响的仿真方法
中国科学院新疆理化技术研究所 专利 不同光强 CMOS图像传感器 像素单元 满阱容量 仿真方法
2023/12/7
本发明涉及一种不同光强对CMOS图像传感器像素单元满阱容量影响的仿真方法，该方法通过在CMOS图像传感器像素单元曝光阶段开始之前，对钳位光电二极管进行复位，设置传输栅栅压为0V，使光电二极管处于积累状态，然后在仿真环境中采用准直光源入射，调用光注入模型，实现光产生过程的模拟，再设置固定光强，采用瞬态模拟，提取钳位光电二极管中的光生载流子数目随积分时间的变化曲线，获得满阱容量，最后改变光强，重复提取...
中国科学院新疆理化技术研究所专利：一种不同光强对辐照后CMOS图像传感器像素单元满阱容量影响的仿真方法
中国科学院新疆理化技术研究所 专利 不同光强 CMOS图像传感器 像素单元 满阱容量 仿真方法
2023/12/7
本发明涉及一种不同光强对辐照后CMOS图像传感器像素单元满阱容量影响的仿真方法，该方法确定氧化物陷阱电荷、类施主型界面态和类受主型界面态作为TCAD软件中电离效应模型的输入参数，通过实验获得γ射线辐照后的暗电流曲线，在对氧化物陷阱电荷、类施主型界面态和类受主型界面态进行电学校准，获得三种缺陷与累积剂量之间的比例因子，建立CMOS图像传感器像素单元电离辐射效应模型，再在CMOS图像传感器像素单元曝光...
中国科学院新疆理化技术研究所专利：一种CMOS图像传感器像素单元多次脉冲读取电荷传输效率仿真方法
中国科学院新疆理化技术研究所 专利 CMOS图像传感器 像素单元 多次脉冲 电荷传输 效率仿真
2023/12/7
本发明涉及一种CMOS图像传感器像素单元多次脉冲读取电荷传输效率的仿真方法，该方法通过在CMOS图像传感器像素单元曝光阶段开始之前，对钳位光电二极管进行复位，设置传输栅栅压为0V，使光电二极管处于积累状态，然后在仿真环境中采用准直光源入射，调用光注入模型，实现光产生过程的模拟，提取此时钳位光电二极管中的光生载流子数目N1，将浮置扩散节点设置为高电位并保持，同时在传输栅上设置脉冲电压，提取每一次传输...
面阵CMOS图像传感器性能测试及图像处理
CMOS图像传感器 性能测试 图像处理
2016/9/2
CMOS图像传感器具有驱动简单、单电源供电、集成度高、功耗低、抗辐射能力强等优点。但是在航天光学遥感领域，CMOS图像传感器应用还不普遍。在该领域亟需大规模、高读出速度、大动态范围的图像传感器，CMOS图像传感器LUPA4000正是这样一款高性能面阵图像传感器，因此，选择LUPA4000作为研究对象，对其缺陷像元、光响应非均匀性、信噪比等性能指标进行测试。测试结果表明存在缺陷像元数量多、光响应非均...
CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统
CCD CMOS APS 辐射性能 抗辐射性能
2014/3/6
研制了中荷耦合器件（CCD）与互补金属氧化物半导体有源像素图像传感器（CMOS APS）辐射效应测试系统,用于研究CCD、CMOS APS图像传感器的辐射效应并准确评估器件的空间辐射环境适应性。该系统采用光机电一体化结构设计，包括光电响应性能检测、光谱检测、控制及数据处理3个分系统，可对器件的光电响应性能、光谱特性进行全面的定量测试与分析。系统的光谱分辨率为1 nm，工作波段为0.38~1.1 μ...
基于估计方法的CMOS图像传感器列固定模式噪声校正方法
列固定模式噪声 CMOS图像传感器 不均匀性 估计方法
2016/8/31
CMOS图像传感器的列固定模式噪声对图像质量的影响非常严重。在分析CMOS图像传感器固定模式噪声产生机理、噪声特性以及其在输出图像中的表现的基础上，提出了一种针对CMOS图像传感器中列固定模式噪声的校正方法。该方法利用CMOS图像采集系统对积分球发出的均匀平行光束进行多次采样并建模来对列固定模式噪声进行估计，然后将估计结果应用于CMOS图像硬件采集系统进行列固定模式噪声的校正，固定模式噪声的校正在...
一种应用于高动态范围CMOS图像传感器的曝光控制技术
CMOS图像传感器 安防监控 动态范围 滚筒式曝光,多次曝光
2014/4/22
本文针对提高CMOS图像传感器的动态范围，提出了一种新的组合滚筒式曝光技术。由目前现有的技术可知，多次滚筒式曝光一般选择在单帧的时间周期内完成。根据不同的曝光参数，CMOS图像传感器芯片输出不同的图像，然后再将其组合成一帧宽动态范围的图像作为最后输出。本文提出的方法，通过充分利用滚筒式曝光时的空闲电路资源，有效地缩短了相邻图像间的时间间隔。这种方法将多次滚筒式曝光穿插进行，实现对目标图像的多次成像...
TDI型CMOS图像传感器时序控制设计与实现
CMOS图像传感器 时间延迟积分 时序控制 行滚筒式曝光
2014/4/28
设计了1024×128 时间延迟积分型（TDI）CMOS图像传感器的时序控制电路。基于沿扫描方向的行滚筒式曝光方式、通过增加曝光频率实现了像素间电荷转移的同时性和信号累加的同步性。完成了像素阵列、像素外电荷累加和列级ADC的时序控制电路，相关参数通过I2C总线控制。设计共耗费761个标准逻辑单元，版图大小为125μm×160μm，总的动态功耗40.55μW，泄漏功耗为10.43μW，时序正确并满足...
基于压缩感知的低功耗高效率CMOS图像传感器设计
CMOS图像传感器 低功耗 高效率 压缩感知
2014/4/29
本文提出一种基于压缩感知的低功耗高效率CMOS图像传感器(CIS)设计。在这种压缩感知CIS中，帧存储、帧差求解和帧压缩等过程分别集成于像素级、列级和芯片级电路中，实现了图像传感过程和图像压缩过程的融合。这种融合提高了CIS在功耗、传输带宽和输出数据等方面的效率。所提出的CIS设计已采用Global Foundries 0.18um 1P6M 混合信号工艺进行了投片验证。验证结果显示，其像素结构可...
一种新的片上抑制CMOS图像传感器暂态噪声方法
CMOS图像传感器 暂态噪声 多帧采样 自适应加权
2014/4/29
暂态噪声是CMOS图像传感器暗光下噪声的重要组成部分，不但影响图像质量，而且限制图像动态范围的提高。本文提出了一种新的自适应片上抑制CMOS图像传感器暂态噪声的方法。将多帧采样图像进行空间转换，使用自适应增益将多帧采样图像中相应像素进行加权平均，进行空间逆变换，得到去噪后的像素值。对20组图片进行实验，结果表明本文算法能够克服传统基于多帧采样暂态噪声去除方法存在的改变原图像亮度的缺点，所得PSNR...