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搜索结果: 1-13 共查到仪器科学与技术 原子力显微镜相关记录13条 . 查询时间(0.168 秒)
中文名称:原子力显微镜Innova,仪器简介:Innova 具有非常强的灵活性,高性价比地满足各项科研的要求。独一无二的闭环扫描线性化系统、卓越的设计及工艺确保测量精度以及接近于开环运行时的噪音水平。
中国科学院上海应用物理研究所专利:一种基于原子力显微镜的测量衬底上样品高度的装置
中国科学院国家纳米科学中心专利:一种原子力显微镜样品负载盘
2014年6月20日,受中国科学院条件保障与财务局委托,中国科学院东北先进制造与材料大型仪器区域中心组织专家对中国科学院沈阳自动化研究所2013年度中科院仪器设备功能开发技术创新项目“基于原子力显微镜的焊接新功能开发”进行了现场验收。
近年来原子力显微镜在测量生物分子间的相互作用力方面取得显著的进步。本文综述原子力显微镜原理以及在生物分子间相互作用方面的研究,为人们理解分子的识别进程,提供一个新的研究方法。
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy)已成为在纳米尺度对样品进行观察和操纵的重要工具。基于原子力显微镜观测的重定位技术提供一种微观区域内对样品处理前后原位对比观测的方法。本文利用坐标实时显示的程控高精度样品台系统,联合使用表面双标记定位法,建立一种新的重定位方法,方便、高效地实现样品重定位AFM成像。
为研究原子力显微镜(AFM)在轻敲工作模式下的能量耗散机理,基于Hamaker假设和Lennard-Jones势能定律得到了原子与球体间的作用力.通过将球体与平面原子间的作用力等效为球体与平面间的粘着分布力,并结合经典弹性理论建立了一种新型的球体与平面粘着接触的弹性模型,根据所建模型得到了AFM针尖与样品表面间的粘着力随其间距的变化规律.仿真结果表明,粘着力随间距的变化曲线在AFM针尖趋近和撤离样...
作为一种纳米测量设备,原子力显微镜已在材料科学等领域得到广泛应用,目前人们正试图使原子力显微镜成为一种计量仪器进入工业测量领域,用于集成电路的线宽等特征尺寸及表面粗糙度的测量。本项目研究的计量型原子力显微镜具有量值溯源性,可将纳米测量的量值直接溯源到米定义激光波长基准,填补了我国国家纳米计量的空白,对纳米技术在我国工业生产中的应用和发展将具有重要的意义。
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy)已成为在纳米尺度对样品进行观察和操纵的重要工具。基于原子力显微镜观测的重定位技术提供一种微观区域内对样品处理前后原位对比观测的方法。本文利用坐标实时显示的程控高精度样品台系统,联合使用表面双标记定位法,建立一种新的重定位方法,方便、高效地实现样品重定位AFM成像。
原子力显微镜(AFM)不仅可用于形貌测量,而且还可在纳米尺度上测量微观组分间的相互作用力。本文简要介绍了AFM的一种令人非常感兴趣的用途——测量和推算单个化学基团对之间的作用力(单键力)。单键力的测量和推算涉及AFM针尖的自组装单分子膜的化学修饰和Poisson统计方法的利用,文中概述了测量和推算的步骤和原理。AFM应用范围的拓宽必将促进它的进一步改进和发展。
介绍了我们研制的一种高精度、具有计量学意义的原子力显微镜测头.该显微测头与其它部件协同工作在50 mm×50 mm×2 mm的测量范围内实现纳米级精度的测量.测头采用光束偏转法检测探针悬臂的微小偏移,由单模保偏光纤引入半导体激光作为光源.该测头安装有3个立体反射镜作为激光干涉仪的参考镜.样品与原子力显微镜测头的相对位置可以由激光干涉仪直接读数,可溯源到米国际定义及国家基准上.激光干涉仪的布置无阿贝...
原子力显微镜以其分辨率高、样品无需特殊制备、实验可在大气环境中进行等优点而广泛应用于聚合物研究之中,弥补扫描隧道显微镜不能观测非导电样品的缺憾。近年来,其应用已由对聚合物表面几何形貌的观测发展到纳米级结构和表面性能的研究领域。在介绍原子力显微镜工作原理的基础上,简要回顾其在聚合物研究方面的若干新应用,并对其应用前景作展望。
讨论了液相型原子力显微镜(AFM)的液相探头、液体池、图像扫描处理软件以及扫描与光电反馈控制电路系统.利用该液相型AFM分别进行了气相和液相环境中的样品表面形貌测量,给出了理想的图像结果.实验表明,该液相型AFM具有优良的液相扫描性能,同时保持了很高的图像分辨率、稳定性和重复性.

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