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中国科学院上海应用物理研究所专利：一种用于扫描探针显微镜的针尖与样品间距调节装置
中国科学院国家纳米科学中心专利：一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法
2019年9月27至28日，由精密科学仪器安徽普通高校重点实验室主办，国仪量子（合肥）技术有限公司协办的“中国扫描探针显微术学术交流会（SPM2019）”在我校召开。本次会议为与会者提供了一个学术交流的平台，共同分享了扫描探针显微术领域近年来的学术成果和探讨该领域未来发展新方向。实验室主任褚家如教授主持27日上午的开幕式，罗喜胜副校长致开幕辞，他首先回顾了扫描探针显微术的发展历程，强调了举办本次会...
1987年,两位研究人员带着一个简单的目标开创了DI公司——制造大量操作简便的Scan-ning Probe Microscope(SPM),使科学家和工程师们能够对以前无法观察到的纳米尺度的物质表面结构及特性进行成像和探索。他们成功地制造了世界上第一台商用STM,并于同年生产出第一台Nanoscope,此后又在1989年推出第一台AtomicForce Microscope(AFM),为非导电性...
基于原子力显微的多模式扫描探针显微镜
多模式扫描探针显微 原子力显微
2008/4/28
扫描探针显微镜是目前世界上分辨率最高的显微镜之一，也是纳米技术研究的主要工具。本文在分析原子力显微镜工作原理的基础上，探讨多模式扫描探针显微镜的相关功能，并对扫描探针显微镜的发展前景进行展望。