搜索结果: 31-45 共查到“测试计量仪器”相关记录1561条 . 查询时间(0.464 秒)
生物倒置荧光显微镜（图）
生物倒置荧光显微镜 荧光检测 重点实验室
2023/8/8
中文名称：生物倒置荧光显微镜，主要功能：除一般显微镜具有的功能能外，Nikon还有专业的DIC相差物镜，不要求染色，是观察细胞和微生物的理想方法。还可进行细胞特殊染色，进行荧光检测。更是一些透明支架观测的理想工具。
阵列式微喷印系统（图）
半导体 电路板 太阳能电池 重点实验室
2023/8/8
中文名称：阵列式微喷印系统，主要特点 1.对位摄影机可用来对位及喷印后观察量测喷印状况并纪录。 2.观墨系统可于喷印前观察并调整喷印参数 3.支持DXF, Gerber, GDSII及OASIS 文件至Bitmap的转换及图形喷印。 主要功能 依据材料科应用到彩色印刷、微机电 (MEMS)、半导体、电路板、电子纸、太阳能电池、燃料电池、能源、无线射频、显示面板、发光二极管、材料科学、生物科学、食品...
数字光学显微镜（图）
数字光学显微镜 重点实验室 高分辨率
2023/8/8
中文名称：数字光学显微镜,仪器简介: 最新整合一体型，在一个只有钢笔大小的摄像机内安装有211万像素CCD15英寸的高分辨率LCD显示器具有景深合成功能，能够达到画面的无限景深即时数字聚焦功能，能够瞬时对指定点进行放大多种连接功能，包括能够与网络连接的USB，LAN和SCSI接口种类繁多。
椭圆偏振仪-激光（图）
椭圆偏振仪 激光 重点实验室
2023/8/8
中文名称：椭圆偏振仪-激光,主要功能：常用附件： 1. 高度与倾角可调的手动样品台；显微镜自动校准系统。 2. 计算机与软件：获取，校准与处理数据；直径100mm的样品硅片(标度厚度101.4nm)。 3. 激光二极管系统；分光计与1550nm 1/4滤波片。 4. 附加探测器与软件系统。 主要用途： 主要用于MEMS（微型电子机械系统）以及微细加工技术研究中，透明及弱吸收薄膜样品的参数测量(厚度...
原子力显微镜Innova（图）
测量精度 原子力显微镜 扫描管
2023/8/8
中文名称：原子力显微镜Innova,仪器简介:Innova 具有非常强的灵活性，高性价比地满足各项科研的要求。独一无二的闭环扫描线性化系统、卓越的设计及工艺确保测量精度以及接近于开环运行时的噪音水平。
中文名称：白光相干相关轮廓测量仪,主要用途：Mems微小尺寸计算，物体表面三维形貌，物体表面粗糙度 主要应用领域：MEMS结构，金属材料，复合材料，陶瓷材料等
台阶轮廓测量仪（图）
台阶轮廓测量仪 光学 变焦系统 薄膜工艺
2023/8/8
中文名称：台阶轮廓测量仪，主要功能：常用附件：大尺寸200mm真空吸样台，光学变焦系统 主要用途：用于测量轮廓、台阶高度、膜厚、薄膜应力 主要应用领域：光电子器件、半导体器件、薄膜工艺、厚膜工艺。
光谱型椭圆偏振仪（图）
机械制造系统 重点实验室 光谱型椭圆偏振仪
2023/8/8
中文名称：光谱型椭圆偏振仪,仪器简介:该设备是一台高效、低廉的薄膜厚度及光学常数测量系统。计算机通过USB口控制仪器、数据采集。配备强大的数据分析软件。几十秒内完成180个波长的测量及数据的拟合。
中国科学院西安光学精密机械研究所专利：多谱段光轴平行性测试装置及测试方法
中国科学院上海应用物理研究所专利：一种氟盐中氧含量的测试方法
中国科学院上海应用物理研究所 专利 氟盐 氧含量 测试方法
2023/7/21
中国科学院上海应用物理研究所专利：一种氟盐中氧含量的测试方法
中国科学院地球化学研究所专利：组培苗蔗糖利用率的测定方法
中国科学院地球化学研究所 专利 组培苗 蔗糖利用率 测定方法
2023/6/27
中国科学院地球化学研究所专利：组培苗蔗糖利用率的测定方法
中国科学院地球化学研究所专利：一种钛合金力学性能试验轴向加压装置
中国科学院地球化学研究所 专利 钛合金 力学性能试验 轴向加压
2023/6/27
中国科学院地球化学研究所专利：一种钛合金力学性能试验轴向加压装置
中国科学院国家纳米科学中心专利：可视化检测抗原抗体反应的方法、试剂盒及其应用