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由中国仪器仪表学会（CIS）主办的国际自动化测试与仪器仪表学术会议（ISTAI）是两年一度的学术 盛会，已分别于2006 年和2008 年在北京成功举办两届，为自动化测试与仪器领域的发展现状与前景及尖 端技术的交流搭建了一个有效平台。来自世界各地的百余位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一 堂，交流信息、探讨问题、促进了相互间的了解和友谊。

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