搜索结果: 1-8 共查到“光学工程 失效”相关记录8条 . 查询时间(0.093 秒)
中国科学院化学所等在单晶高镍正极材料机械化学失效研究方面取得进展（图）
单晶高镍 纳米结构
2022/10/10
实现“双碳”目标的时代背景下迫切需要发展高效电能存储技术，锂离子电池作为最先进的电化学能源储存器件之一，在便携式电子设备及电动汽车等领域得到广泛应用。其中高镍正极材料由于具有高容量和低成本的特点，是最有前景的高比能锂离子电池正极材料之一。然而高镍正极材料严重的界面副反应与充放电过程的体积形变导致容量衰减快、安全性差与机械失效等问题，严重限制了其大规模商业应用。纳米晶粒长大成微米级单晶颗粒，不仅能够...
硅雪崩光电探测器工作寿命试验及失效分析研究
硅雪崩光电探测器 FMEA 加速寿命试验 失效分析
2016/9/7
通过FMEA分析和加速寿命试验，确定了硅雪崩光电探测器的主要失效模式有两种，一种是暗电流超标，另一种是前放输出电压不合格；对这两种失效模式进行了失效分析，认为是高温应力引起器件内部气氛的变化，主要是氢气含量变大引起器件暗电流不合格；大电流引起前置放大电路上晶体管损伤是前放输出电压不合格的原因。
开展了加速退化条件下光伏组件产品可靠度评估的研究，提出了新型的基于GLD的光伏组件的伪失效寿命分布估算方法。首先，利用可决系数检验法（R2）优选最佳加速退化轨迹，得到样本组伪失效寿命值。然后，应用Bootstrap法产生自助样本扩充样本群，构建基于GLD的伪失效寿命分布模型，该模型无需预设先验分布，即可真实反映不同加速条件下光伏组件伪失效寿命分布形态。最后，以18 W小功率Mono-Si单晶硅光伏...
杜瓦真空失效造成光电转换探测系统的核心部件故障,依据真空物理稀薄气体理论,分析探讨了真空失效考核方法。检测组件在工作状态下的降温时间是否符合用户要求,是确认真空失效最直接有效的方法。制冷机额定制冷功率与杜瓦最大无功功率之差,即设计允许最大热负载增加量。在特定时间区间内,利用液氮蒸发原理测量热负载增加量,达到扩展不确定度30 mW(k=3)时,可以认为杜瓦真空有用寿命不符合用户要求。用户定制15年真...
随着引信向微型化、智能化、灵巧化发展，对引信采用三维封装是实现其小型化最为前景的技术。硅通孔（TSV）是三维封装的关键技术，广泛应用在微机电系统(MEMS)的集成中，具有封装尺寸小和能量消耗低的优点。研究了一种应用于MEMS引信的TSV三维封装技术，该MEMS引信的工作模式要求TSV在引信起爆控制时的瞬时大电流冲击下，电阻改变量在规定允许的范围内。利用有限元分析软件计算TSV在瞬时大电流下的升温曲...
以光纤的机械可靠性为主线综述了光纤材料中固有裂纹的生长和传播所导致的光纤断裂机制.在该断裂力学的基础上推导了传统通信光纤在平直应用中的寿命预测模型.继而分析了处于弯曲构型中的传感环圈光纤表面的应力分布,然后在与传统理论相同的基本断裂机理下,类比于通信光纤可靠性模型的推导,据此应力分析给出了评估这种环圈光纤的机械可靠性的一般模型.进而从工程应用的角度简化了所推导出的一般模型,使之能够快速简单地给出环...
N&K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用
有机电致发光器件 N&K多功能薄膜分析仪 失效分析
2014/3/28
使用N&K多功能薄膜分析仪对OLED的结构进行分析,对比了不同时间室温老化实验样品的反射率波谱。对反射率进行计算拟合,得到OLED的多层膜结构信息。对相同室温老化实验条件下的完好器件和失效器件的结构进行了对比,发现对于结构为ITO/NPB/Alq3/LiF/Al的器件,主要是Alq3和LiF层发生变化引起器件失效。由此也证明使用N&K多功能薄膜分析仪是OLED失效分析的有效手段。