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真空紫外辐照引起的聚合物材料质量损失模型及实验验证真空紫外辐照聚合物材料质量损失扩散理论 2016/3/2

基于扩散理论及辐射化学反应理论，建立真空紫外(VUV)辐照引起的聚合物材料质量损失数学模型。采用分离变量法与特征函数展开法，获得材料中挥发物质量随辐照剂量变化的函数关系式。通过实验得到聚酰亚胺(PI)薄膜和聚酯(PET)薄膜的质量损失数据，拟合求解模型中的参数，验证模型的适用性。实验结果表明，该质量损失模型适用于PI薄膜及PET薄膜，借助该模型可预估VUV辐照引起的材料的质量损失。