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TGS连续扫描模式下样品自发射数据分析方法研究 TGS 连续扫描模式发射数据分析自吸收 2012/3/22

本文讨论了TGS连续扫描模式下样品自发射数据的分析方法，将自发射的效率计算分为数值模拟计算样品自吸收和MCNP模拟计算HPGe探测效率三维空间分布函数两部分，并用实验验证了该方法的合理性。